果果儀器科技（上海）有限公司專(zhuān)精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。

X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。

X射線衍射分析法目前已廣泛應(yīng)用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力測(cè)定等方面。

賽默飛（Thermo Scientific） ARL™ EQUINOX 3500是ARL EQUINOX 3000 的升級(jí)版。EQUINOX3500配備了更大曲率半徑的探測(cè)器，可根據(jù)需要獲取高分辨率XRD 數(shù)據(jù)。

在不同溫度下測(cè)試的樣品物相可能會(huì)發(fā)生變化，XRD原位冷熱臺(tái)可以為樣品提供良好的變溫測(cè)試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測(cè)試需求。

根據(jù)客戶需求，果果儀器定制XRD原位冷熱臺(tái)適合于粉末樣品在變溫下進(jìn)行X射線結(jié)構(gòu)研究，適配賽默飛X射線衍射儀進(jìn)行變溫X射線衍射測(cè)試。產(chǎn)品可更換上蓋，作為普通冷熱臺(tái)使用；可調(diào)節(jié)高度，滿足不同厚度樣品測(cè)試。

本產(chǎn)品包含溫度控制器、致冷控制器、循環(huán)水系統(tǒng)，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進(jìn)行定制化編程。

產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：

     1、溫控范圍：-190°C~600°C（氣氛環(huán)境），-190°C~400°C（真空環(huán)境）；

     2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）；

     3、溫度分辨率：0.1℃;

     4、衍射角：∠0～∠164°；

     5、可更換上蓋，作普通冷熱臺(tái)使用。

↑ XRD原位冷熱臺(tái)適配賽默飛X射線衍射儀進(jìn)行變溫X射線衍射測(cè)試 ↑